| 测量方法 | X射线 |
|---|---|
| 产地 | 德国 |
| 电压 | 12V |
| 类型 | 镀层测厚仪 |
| 适用范围 | 金属镀层测厚 |
| 外形尺寸 | 802-800-601 |
| 重量 | 120 |
| 屏幕色彩 | 彩色 |
| 品牌 | 菲希尔 |
| 质量认证 | ROHS |
XAN系列测厚仪
XAN? 系列仪器适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖出。
特性： 操作简单且性价比高。 自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品 广泛适用：为各个行业的需求量身定制了多种型号 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对薄镀层及微量成分进行精测量 应用： 镀层厚度测量 厚度仅为几纳米的贵金属镀层 时尚首饰：对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析 抗磨损镀层，如：对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量 测试纳米级基础金属化层（凸点下金属化层，UBM） 材料分析 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度 专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质（例如重金属） 功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量 
